Select a different country or region to see specific content for your location.
Teststik
Materialer og løsninger til teststik
Materialer og løsninger til teststik
Teststik er en af de vigtigste anvendelser i back-end-processer inden for halvlederindustrien. De bruges til chipanalyse med automatiseret testudstyr (ATE). Teststikket er vigtigt, da optimal testydelse opstår, når der er fremragende forbindelse mellem chippen og ATE. En teststik giver denne forbindelse, som er både mekanisk og elektrisk. Denne elektriske/mekaniske forbindelse er bindeleddet mellem chippen og ATE'en.
Typiske materialer til teststik
Termoplastiske materialer til halvledertestsokler vælges ud fra en række forskellige faktorer. Faktorerne omfatter temperaturområde, dimensionsstabilitet, mikrobearbejdelighed og relative omkostninger. Disse og andre faktorer skal tages i betragtning ved valg af materiale til fremstilling af et teststik. Der er mange muligheder, bl.a. PEEK, PEI, PPS, keramikfyldt PEEK og Polyimid. Ved temperaturer fra -40°C til ca. 170°C er PEI og PPS velegnet op til ca. 220 °C. Ved højere temperaturer vil PEEK og PI være en bedre løsning. Høj dimensionel stivhed er en egenskab ved keramikfyldt PEEK. PEEK-fyldt keramiks ydeevne vil blive forbedret på grund af synergien i kompositten. Derudover har keramikfyldt PEEK fremragende kemisk og termisk modstandsdygtighed samt god slidstyrke. Polyimid tilbyder fremragende dimensionsstabilitet, styrke og stivhed selv over 250oCsamt en UHT-version op til 450oC på kort sigt. Optimalt valg af termoplast kræver forståelse af alle krav til materialets ydeevne og fremstillingsbehov.
(copy 2)
Materialeudfordringer og -tendenser - Halvledernes ydeevne øges, både mekanisk og elektrisk. I takt med at størrelsen på det integrerede kredsløb (IC) er skrumpet, er teststikkets tværsnit også skrumpet. Når det sker, er der brug for stivere polymerer. Det er vigtigt at overveje, at øget stivhed skal tilbydes sammen med muligheden for at producere mindre huller. Kort sagt er de mest kritiske tendenser for testsokler reduktion af huller og stivere, tyndere tværsnit.
- EtroX® V (keramikfyldt PEEK)
er et førsteklasses materiale til testsokler med høj præcision - EtroX® I CM (Polyimide)
er også et førsteklasses materiale til højpræcisions- og højtemperaturtestsokler og en række halvlederdele (f.eks. waferchucks og håndtering)
EtroX® I CM UHT
har en lav vandabsorption på 0,06 % og kan bruges på lang sigt ved 300 °C - Sustatron® PPS
er en variationsbestandig polymer med høj mekanisk styrke og stivhed
Hvidbog: Bedre testsokler med EtroX®.
Opdag, hvordan banebrydende materialer forvandler testudstyr til halvledere i vores seneste hvidbog. Efterhånden som integrerede kredsløb bliver mindre og mere komplekse, kræver det polymerer, der er designet til overlegen ydeevne, for at imødekomme efterspørgslen efter ultrapræcise, højtydende testsokler. Se, hvordan EtroX®-produktserien, herunder EtroX® V, EtroX® I CM og EtroX® I CM UHT, leverer uovertruffen stabilitet, bearbejdelighed og termisk modstandsdygtighed for at imødekomme branchens skiftende behov. Download hvidbogen for at udforske vigtige tendenser, materialesammenligninger og fremtiden for testteknologi til halvledere.
Arrangér teknisk rådgivning
Ydeevnen og levetiden for plast til brug i halvlederindustrien påvirkes af en række faktorer. Disse kriterier skal overvejes for at kunne træffe det rigtige valg af materialer. Eksempler på dette:
- Antistatiske eller ledende egenskaber
- Driftstemperatur
- Kontakt med kemikalier
- Krav til design
- Dimensioner og tolerancer
- Flammehæmning
Vi rådgiver dig gerne om valg af egnede materialer til netop din anvendelse. Brug blot vores kontaktformular nederst på siden.
